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方案概述
相控陣天線環(huán)試測試系統(tǒng)主要用于多種型號相控陣天線的溫度（高溫、常溫、低溫）、振動等環(huán)境試驗，根據(jù)不同環(huán)試條件下所得產(chǎn)品參數(shù)對產(chǎn)品環(huán)試適應性指標進行標定，能夠實現(xiàn)多臺產(chǎn)品批量測試。隨著相控陣天線產(chǎn)品批量生產(chǎn)任務的不斷增加，需要應對產(chǎn)能擴充帶來的硬件升級，相控陣天線環(huán)試測試系統(tǒng)設計方案根據(jù)對產(chǎn)品測試需求的可行性研究與分析，建立了基于“核心測試設備+主控計算機+測試應用開發(fā)”的設計思路，使測試系統(tǒng)總體架構更通用化，也使測試系統(tǒng)具有使用便捷、可靠性好、安全性高、測試精度高及可擴展性等技術特點。
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功能特點
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主要特點
l 相控陣天線環(huán)試測試系統(tǒng)能進行相控陣天線的接收、發(fā)射環(huán)境試驗
l 能兼容多種型號的相控陣天線環(huán)境試驗
l 通過射頻信號處理單元、波控信號處理單元、電源切換單元等專用設備實現(xiàn)多個被測件的測試（測試設備分時復用）
l 可同次進行不同型號的相控陣天線環(huán)境試驗
l 具備信息化管理功能
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典型應用
相控陣天線環(huán)試測試系統(tǒng)主要用于相控陣天線的接收、發(fā)射環(huán)境試驗。
技術規(guī)范
參數(shù)名稱
技術指標
頻段
可選頻段
Ku波段、Ka波段（可擴展其他頻段）
工業(yè)級計算機配置
PXI機箱
9槽
PXI控制器
i7、8G、1T固態(tài)硬盤
射頻/微波儀器
信號發(fā)生器
頻段10MHz~40GHz
信號/頻譜分析儀
頻段10MHz~40GHz
功率計
頻段10MHz~40GHz
專用設備
射頻信號處理單元
集成各波段功放，16個通道
波控信號處理單元
16個通道
電源切換單元
16個通道
電源供電
系統(tǒng)供電
220V±10%，≤2000W；380 V±10%，≤2000W
大功率程控電源
10kW，500V/60A
程控電源
8路（2路20 V/15 A、6路35 V/8.5A）
測試參數(shù)
相控陣天線發(fā)射性能
天線發(fā)射相關參數(shù)
相控陣天線接收性能
天線接收相關參數(shù)
可靠性指標
穩(wěn)定、可靠工作時間
≥240 h
故障恢復時間
≤10 min
訂貨信息
設備名稱
數(shù)量
相控陣天線環(huán)試測試系統(tǒng)
1套
用戶手冊
1套
合格證
1套
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